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歡迎參加0502【能源奈米論壇】- 共軛焦暨白光干涉儀之表面輪廓量測原理及實務

【能源奈米論壇】

共軛焦暨白光干涉儀之表面輪廓量測原理及實務

時間:107年5月2日 09:30

地點:應用科技大樓地下一樓B29室

主講者:Sensofar 亞洲區總經理-余宣魁先生 

共軛焦暨白光干涉儀之表面輪廓量測原理及實務

10:00-10:40   共軛焦/白光干涉 3D 光學輪廓儀量測原理介紹 
內            容: 共軛焦原理與優缺點, 
                   : 白光干涉原理與優缺點 
                   : 共軛焦與白光干涉的比較 
                   : 奈米級粗糙度量測與3D輪廓分析 
11:00-11:40   共軛焦/白光干涉技術於科技產業界的相關應用 
內            容: 工業科技業上的應用 (半導體/PCB/材料相關) 
                     IC Package, CMP, via measurement, wafer support disk, 
                     Probe card, Bump, Bond pad defect mode, 
                     MEMS, Precise Mold Components, Precise Glass Components, 
                     PCB, Tooling, LCD Panel, Laser Marking, Automotive, Optics.等等