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法規與
表格
法規與表格
SHOWA_日常使用表2020
SHOWA考核表
SHOWA使用辦法
可變溫式起高真空掃描探針顯微鏡 管理辦法
高解析度穿透式電子顯微鏡(TEM) 管理辦法
高解析度穿透式電子顯微鏡(TEM) 執照取得辦法
多功能掃描探針顯微鏡(ICON_AFM)管理辦法
精密離子打薄機(PIPS)
三維奈米拉曼燭光顯微鏡系統(NF) 管理辦法
三維奈米拉曼燭光顯微鏡系統(NF) 執照取得辦法
倒立式雷射掃描式共軛焦顯微影像系統 管理辦法
倒立式雷射共軛焦顯微鏡 管理辦法
場發射掃描式電子顯微鏡 管理辦法
國立中興大學永續能源與奈米科技研究中心核心收費標準
